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薄膜测厚仪的性能简介

发布时间:2012-08-02浏览:1844次

 薄膜测厚仪的性能简介 

非接触式测厚仪的测量原理:使用两个激光传感器安装在被测物(纸张)上下方,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标的厚度值。   
  ZTMS08非接触式薄膜测厚仪的出现,大大提高了纸张等片材厚度测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。
zui近英国真尚有公司研发出了新的非接触式测量方法ZTMS08测厚仪,可以实现对薄膜的非接触式测量,避免对纸张造成形变引起误差。 
技术指标:
     1.测量范围:(0-25)mm   2.分辨率:0.001mm   3.电源:氧化银电池SR44   4.工作温度:0℃~+40℃   5.储运温度:-20~+70℃   6.相对湿度:≤80%
符合标准:
  QB/T 1053-98,QB/T 451.3-98